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S916介質損耗及介電常數測試裝置

S916介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗測試(shi)裝置(zhi)(zhi)與本公司生產(chan)的(de)各款(kuan)WGJSTD系列介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗及(ji)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)測試(shi)儀配(pei)套(tao),可用(yong)(yong)于(yu)測量絕緣材料的(de)介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)和介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗系數(shu)(損(sun)耗角正切值)。S916介(jie)質(zhi)(zhi)損(sun)耗測試(shi)裝置(zhi)(zhi)是S914的(de)換代產(chan)品,它采用(yong)(yong)了數(shu)顯微測量裝置(zhi)(zhi),因(yin)而讀數(shu)方便,數(shu)據。

  • 更新時間(jian):2024-05-05
  • 瀏覽次數(shu):1035
  • 廠商性質:生產廠家
  • 產   地:上海寶山
產品詳細介紹

測(ce)試(shi)裝置由一個LCD數字顯(xian)示(shi)微測(ce)量裝置和一(yi)對間距可調(diao)的平板(ban)電容(rong)器極片(pian)組成。平板(ban)電容(rong)器極片(pian)用于夾持(chi)被測(ce)材料(liao)樣品(pin),微測(ce)量裝置則顯(xian)示(shi)被測(ce)材料(liao)樣品(pin)的厚度。S916介(jie)質損耗測試裝置須配用(yong)WGJSTD系列(lie)儀器(qi)作為(wei)調諧指示(shi)儀器(qi),通過(guo)被測材料(liao)樣品(pin)放進(jin)平板電容器(qi)和不(bu)放進(jin)樣品(pin)時的(de)品(pin)質因數值即Q值的變(bian)化,測(ce)得絕緣材料的損耗角正切值。從(cong)平(ping)(ping)板(ban)電容器平(ping)(ping)板(ban)間距的讀值變(bian)化則可換算得到絕緣材料介電常數。

技術特(te)性

1.      平(ping)板(ban)電容器:

極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可(ke)選

極(ji)片(pian)間距可調范(fan)圍:≥15mm

2. 夾具插頭(tou)間距(ju):25mm±0.01mm

3. 夾(jia)具(ju)損(sun)耗正(zheng)切值≤4×101MHz

4測微桿分辨率:0.001mm


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