WGJSTD-A介(jie)電常數及介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀是一款(kuan)通用(yong)的(de)，多用(yong)途，多量(liang)(liang)程(cheng)的(de)高頻(pin)(pin)阻(zu)抗測量(liang)(liang)儀器(qi)(qi)。它可測量(liang)(liang)高頻(pin)(pin)電感(gan)(gan)器(qi)(qi)，高頻(pin)(pin)電容(rong)(rong)器(qi)(qi)及各種諧振(zhen)元(yuan)件的(de)品(pin)質(zhi)因(yin)數（Q值）、電感(gan)(gan)量(liang)(liang)、電容(rong)(rong)量(liang)(liang)、分布電容(rong)(rong)、分布電感(gan)(gan)，也可測量(liang)(liang)高頻(pin)(pin)電路組件的(de)有效串、并聯電阻(zu)、傳輸線的(de)特(te)征阻(zu)抗、電容(rong)(rong)器(qi)(qi)的(de)損耗角正切值、電工材料的(de)高頻(pin)(pin)介(jie)質(zhi)損耗、介(jie)質(zhi)常數等等。因(yin)而高頻(pin)(pin)Q表不但(dan)廣泛用(yong)于高頻(pin)(pin)電子(zi)元(yuan)件和(he)材料的(de)生產(chan)、科研、品(pin)質(zhi)管理等部門、也是高頻(pin)(pin)電子(zi)和(he)通信實驗