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WGJSTD-B數字式介質(zhi)損耗及介電常(chang)數測試(shi)(shi)儀(yi)是我公司(si)一代(dai)通用(yong)、多用(yong)途(tu)、多量程的(de)阻抗(kang)測試(shi)(shi)儀(yi)器。它以單(dan)片計算(suan)機作為(wei)儀(yi)器的(de)控制、測量核(he)心，真正實現了Q值(zhi)的(de)數字化，電容、電感、Q值(zhi)、信號(hao)源(yuan)頻率都在一個液晶(jing)屏上展示出(chu)來，采用(yong)特制介質(zhi)損耗測試(shi)(shi)裝置(zhi)和單(dan)位計算(suan)可以的(de)計算(suan)出(chu)介質(zhi)損耗及介電常(chang)數，在你(ni)操作時，再也不(bu)用(yong)去(qu)注意量程和換算(suan)單(dan)位。
| 詳細介紹 |
本儀器的測(ce)試回路(lu)可用被測元件(jian)L、主(zhu)調(diao)諧(xie)電容C、回路的損耗電阻R構成(cheng)的串(chuan)聯電路(lu)來等效，當(dang)測試回路(lu)諧(xie)振時（高頻信號源輸入信號的頻率(lv)為諧(xie)振頻率(lv)w0），主調電容(rong)上的(de)電壓是信號源輸入電壓的(de)Q倍，或(huo)Q=w0L/R=1/w0CR，顯然信號源頻率w0的穩定度(du)和精度(du)、主(zhu)調電容(rong)C的(de)精度和分辨率(lv)、測試回路的(de)高頻損耗R決定了儀器的品質。模擬式的信號源穩定性差，主調電容的分辨率和讀數精度低，使用復雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。 WGJSTD-B傳承(cheng)*代WGJSTD-A數碼化、人性(xing)化設計理念，采用數字化(hua)主調電容、LCD大屏幕液晶(jing)顯示(shi)全參數、DDS直接數字合(he)成信號源(yuan)三項(xiang)創新技術，使WGJSTD-B的技術性能(neng)、使用功(gong)能(neng)大為提升,*改變了老款面板上印制的(de)二(er)組輔(fu)助表格計算LCQ的落后狀況，WGJSTD-B讀數清晰,無須換算，操作簡便，特別適合電子元器件的(de)質量分析(xi)、品質控制、科研生(sheng)產(chan),也可(ke)用(yong)于高等院校的(de)材料科學、電(dian)子信(xin)息、電(dian)子通信(xin)、等專業(ye)作科研實(shi)驗(yan)儀器(qi)。
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